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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開(kāi)關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無(wú)源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車(chē)整車(chē)及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類(lèi)

光電在片測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品詳情


與Keysight光子學(xué)應(yīng)用全面交鑰匙集成測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

業(yè)界最高效、最精確的晶圓級(jí)光子測(cè)量系統(tǒng)

測(cè)試工程師的目的是進(jìn)行測(cè)量。由于硅光子學(xué)測(cè)量的復(fù)雜性,一個(gè)集成的、經(jīng)驗(yàn)證的解決方案將幫助工程師在長(zhǎng)期開(kāi)發(fā)項(xiàng)目上節(jié)省寶貴的時(shí)間。我們已經(jīng)開(kāi)發(fā)了所有的工具、夾具和校準(zhǔn)技術(shù),使您能夠在數(shù)小時(shí)內(nèi)而不是數(shù)月或數(shù)年內(nèi)測(cè)量光子器件。FormFactor的自動(dòng)硅光子學(xué)測(cè)量輔助工具和Keysight儀器提供了高度靈活的解決方案,能夠快速轉(zhuǎn)換多種測(cè)試需求,從單光纖到陣列,從垂直耦合到邊緣耦合。我們的光子集成套件和革命性的OptoVue校準(zhǔn)套件將在安裝后立即為您提供經(jīng)生產(chǎn)驗(yàn)證的優(yōu)化光學(xué)測(cè)量。

實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量測(cè)量最快捷、最安全、最經(jīng)濟(jì)的途徑

預(yù)驗(yàn)證、交鑰匙、全面的、集成的FormFactor測(cè)量系統(tǒng),可為重要的測(cè)試應(yīng)用提供安心和即時(shí)、開(kāi)箱即用的生產(chǎn)力。

可免費(fèi)提供這些益處。 FormFactor的IMS解決方案沒(méi)有對(duì)Keysight產(chǎn)品或集成費(fèi)用的加價(jià)。

世界上唯一晶圓級(jí)光子學(xué)系統(tǒng),其建立于研發(fā)儀器儀表行業(yè)的第一領(lǐng)導(dǎo)者和分析探測(cè)系統(tǒng)的第一領(lǐng)導(dǎo)者基礎(chǔ)之上— the FormFactor IMS-K-SIPH.

套裝硬件和軟件

FormFactor和Keysight應(yīng)用專(zhuān)家將一起幫助您配置一個(gè)強(qiáng)大、完整的解決方案,包括:

  • FormFactor探測(cè)系統(tǒng):CM300xi, SUMMIT200, MPS150(其他可選)

  • 手動(dòng)、半自動(dòng)和全自動(dòng)探針臺(tái)選項(xiàng)

  • FormFactor工程探針:手動(dòng)或電動(dòng)定位器上的RF和DC探針

  • FormFactor集成單面、雙面或三面HexNano光學(xué)定位

  • FormFactor光子學(xué)自動(dòng)化軟件:用于自動(dòng)光學(xué)定位器校準(zhǔn)和控制的SiPh工具,和光子學(xué)控制器接口

  • 從-40℃到+125℃的全溫度范圍自動(dòng)變溫測(cè)量

  • 可調(diào)諧激光器、功率表和偏振合成器:Keysight N7776C、N7778C、N7744C、N7745C、N7786C、N7788C(其他可選)

  • 模塊化激光器:Keysight 81606A、81607A、81608A和81602A(其他可選)

  • Keysight半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或用于光電轉(zhuǎn)換(O-E)的PXIe SMUs:B2901A、B1500A、M9601A PXI SMU(其他可選)

  • Keysight測(cè)試和自動(dòng)化軟件:光子應(yīng)用套件(PAS)、帶FormFactor晶片測(cè)試插件的PathWave測(cè)試自動(dòng)化平臺(tái)

  • 完成系統(tǒng)需增加:電纜、適配器、安裝硬件等。