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150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺功率放大器場強(qiáng)測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測試電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試失效分析測試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計光譜儀光波元器件分析儀時鐘恢復(fù)(CDR)光波長計OTDR光芯片測試系統(tǒng)測試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測試附件國產(chǎn)射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件THz在片測試系統(tǒng)WAT測試系統(tǒng)高壓在片測試系統(tǒng)光電在片測試系統(tǒng)硅光在片測試系統(tǒng)射頻在片測試系統(tǒng)失效分析在片測試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測試系統(tǒng)直流在片測試系統(tǒng)自動測試軟件晶圓在片測試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測試系統(tǒng)電源自動測試系統(tǒng)多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實物協(xié)同仿真平臺無源-有源混合負(fù)載牽引測試系統(tǒng)射頻微波測試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測行業(yè)資訊社會新聞公司簡介聯(lián)系我們招賢納士

Cascade Summit200 8英寸半/全自動探針臺系統(tǒng)

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡介

SUMMIT200探針臺專為研發(fā)設(shè)備表征/建模或利基生產(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計,可在-60°C至 +300°C溫度范圍內(nèi)進(jìn)行精確的電氣測量,適用于超低噪聲,DC,RF,mmW和THz應(yīng)用,并具有半自動和全自動操作,可用于最快時間獲取準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。


Summit 200 mm 探針臺,用于收集高精度測量數(shù)據(jù),速度提高 5 。

新的Cascade SUMMIT200,先進(jìn)的200mm探頭系統(tǒng),對于收集單個或體積晶圓上的高精度測量數(shù)據(jù)至關(guān)重要;越快越好。


SUMMIT200探針臺專為研發(fā)、器件表征/建模或利基生產(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計,可在溫度范圍內(nèi)對超低噪聲、直流、射頻、毫米波和太赫茲應(yīng)用進(jìn)行精確電氣測量,具有半自動和現(xiàn)在的全自動操作,可以最快的速度獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。


下一代探頭系統(tǒng)支持PureLine?技術(shù),可實現(xiàn)市場上最低的噪音水平之一。獲得專利的 AttoGuard? 和 MicroChamber? 技術(shù)顯著改善了低泄漏和低電容測量。全新先進(jìn)的 200 mm 快速載物臺、可處理多達(dá) 50 片晶圓的盒式磁帶、高通量測試功能以及 -60°C 至 300°C 的寬溫度范圍,為科學(xué)家、研發(fā)和測試工程師或生產(chǎn)操作員提供快速完成工作所需的一切。


SUMMIT200探針臺支持Contact Intelligence?,這是一種獨(dú)特的技術(shù),可實現(xiàn)自主半導(dǎo)體測試。創(chuàng)新系統(tǒng)設(shè)計和最先進(jìn)的圖像處理技術(shù)的強(qiáng)大組合提供了獨(dú)立于操作員的解決方案,可在任何時間和溫度下實現(xiàn)高度可靠的測量數(shù)據(jù)。


該SUMMIT200具有廣泛的應(yīng)用范圍和滿足未來任何需求的升級路徑,為現(xiàn)有和未來的設(shè)備和 IC 提供最先進(jìn)的 200 mm 探針臺平臺,用于快速、高精度和大批量測量。


*SUMMIT200平臺還提供不同的版本,用于不需要上述增強(qiáng)功能集的測量任務(wù)。有關(guān)詳細(xì)信息和選項,請參閱數(shù)據(jù)表。




產(chǎn)品特性

  • 采用 PureLine、AutoGuard 和新一代 MicroChamber 技術(shù)實現(xiàn)高準(zhǔn)確度 IV/CV、低噪聲和 1/f 測量的最佳解決方案

  • 利用有效的屏蔽能力最大限度降低了 AC 和頻譜噪聲

  • 可選載片器的自動晶圓處理

  • 強(qiáng)大的自動化工具減少了晶圓,單個裸片和模塊的總測試時間

  • 用于實現(xiàn)準(zhǔn)確定位和可重復(fù)的探針-焊盤接觸的高級 4 軸半自動臺

  • -60°C 至 +300°C 的完整溫度范圍



測量精度

ü使用PureLine、AutoGuard 和下一代 MicroChamber 技術(shù)實現(xiàn)高精度 IV/CV、低噪聲和 1/f 測量的最佳解決方案

ü通過有效的屏蔽功能將交流噪聲和頻譜噪聲降至最低

ü通過集成射頻工具和 WinCal 實現(xiàn)無與倫比的射頻/毫米波測量和校準(zhǔn)精度

ü最短的信號路徑測試集成,可實現(xiàn)準(zhǔn)確、熱穩(wěn)定和低誤差的數(shù)據(jù)采集


生產(chǎn)力

ü將準(zhǔn)確數(shù)據(jù)的時間提高多達(dá) 5 倍

ü先進(jìn)的200 mm 載物臺,提高測試吞吐量

ü采用VueTrack?和高溫穩(wěn)定性(HTS)技術(shù)的高通量UT/MT(多溫度無人值守測試)

ü使用可選裝載機(jī)實現(xiàn)自動晶圓處理

ü為標(biāo)準(zhǔn)和“難以測試”的器件(如薄晶圓、小焊盤和高功率)更快地獲得首次數(shù)據(jù)

üeVue 數(shù)字成像系統(tǒng)具有增強(qiáng)的光學(xué)可視化、快速設(shè)置以及片內(nèi)和晶圓導(dǎo)航功能

ü強(qiáng)大的自動化工具可縮短晶圓、單晶芯片和模塊的總測試時間


定位精度

ü先進(jìn)的 4軸 半自動載物臺,可實現(xiàn)精確定位和可重復(fù)的探頭與焊盤接觸

ü使用電動定位器和VueTrack PRO進(jìn)行精確的亞微米定位和主動熱補(bǔ)償

ü通過符合人體工程學(xué)的手動控制,實現(xiàn)額外的快速“動手”晶圓定位



靈活性和針對應(yīng)用量身定制的解決方案

ü射頻/微波器件特性、1/f、WLR、FA 和設(shè)計調(diào)試

üVelox 與分析儀/測量軟件之間的無縫集成

ü使用探頭定位器和探頭卡的完整解決方案

ü多功能顯微鏡安裝系統(tǒng),用于精細(xì)結(jié)構(gòu)和大面積探測

ü全熱范圍:-60°C至+300°C


熱測量

üATT的各種高性能、可靠的熱卡盤系統(tǒng)

ü從僅熱到-60°C至+300°C的全熱范圍的靈活性

ü與市場上其他系統(tǒng)(300l/min)相比,耗氣量(CDA)降低25%,且不影響過渡時間

ü轉(zhuǎn)換時間比市場上其他系統(tǒng)快15%

ü獲得專利的 MicroVac? 和 FemtoGuard? 技術(shù),提供超低噪聲測量和可控泄漏、低殘余電容以實現(xiàn)可重復(fù)性以及先進(jìn)的測量精度和速度

ü可現(xiàn)場升級:隨心所欲


易用性

ü舒適且符合人體工程學(xué)的操作

ü通過鎖定推出平臺快速舒適地手動晶圓存取

ü使用 Velox 輕松進(jìn)行屏幕導(dǎo)航、晶圓映射以及附件和熱系統(tǒng)的操作


Velox 探針臺控制軟件

ü以用戶為中心的設(shè)計最大限度地降低了培訓(xùn)成本并提高了效率

üWindows 10 兼容性通過最先進(jìn)的硬件實現(xiàn)最高性能和安全操作

ü全面的對準(zhǔn)功能—— 從簡單的晶圓對準(zhǔn)和映射到多種溫度下的高級探頭到焊盤對準(zhǔn),用于自主半導(dǎo)體測試

ü為沒有經(jīng)驗的用戶簡化操作:通過工作流程指南和簡潔的圖形用戶界面降低培訓(xùn)成本

ü裝載機(jī)集成——輕松創(chuàng)建工作流程和收據(jù),無需任何附加軟件

üVeloxPro 選件:符合 SEMI E95 標(biāo)準(zhǔn)的測試執(zhí)行軟件,可簡化整個晶圓測試周期的自動化



產(chǎn)品應(yīng)用

電源類產(chǎn)品,半導(dǎo)體分立器件,IV/CV,RF/mmW/THz,失效分析,WLR,MEMS,硅光子學(xué)


產(chǎn)品規(guī)格參數(shù) 下載