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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無(wú)源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類

AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高級(jí)測(cè)量和建模軟件支持多種負(fù)載牽引技術(shù),包括使用外部?jī)x器的傳統(tǒng)負(fù)載牽引、基于VNA的負(fù)載牽引、主動(dòng)負(fù)載牽引和混合負(fù)載牽引。軟件執(zhí)行DC-IV和脈沖IV測(cè)量,并結(jié)合了建模工具。其現(xiàn)代化的可視化功能使用戶能夠更直觀地查看、繪制和繪制測(cè)量數(shù)據(jù)。


型號(hào):

雙極性±25V/1A

高壓250V/30A


產(chǎn)品特性

  • 脈沖寬度小于200ns

  • 混合和匹配輸入和輸出脈沖

  • 串聯(lián)系統(tǒng)同步3+脈沖通道

  • 嵌入式快速短路電流斷路器,保護(hù)內(nèi)部探頭電路

  • 嵌入式快速測(cè)量采樣器

  • 高信噪比快速平均和紋波采集

  • 相當(dāng)于50MSample/s的脈沖波形監(jiān)測(cè)

  • 可編程性

  • 以太網(wǎng)和USB控制


產(chǎn)品應(yīng)用

  • 高精度IV測(cè)量

  • 同步脈沖S參數(shù)測(cè)量