射頻在片測試系統(tǒng)

產品簡介

Formfactor的RFgenius晶圓上S參數測量包，包括以合理的價格實現精確測量所需的所有關鍵組件 – 從探測站到網絡分析儀。所有這些都經過驗證并證明可提供領先的性能測量。這個入門級系統(tǒng)是大學和學校的完美，易于購買的選擇，實驗室空間最小。

RFgenius軟件包包括執(zhí)行高度精確測量的所有關鍵組件。不僅是探針臺，探針，定位器，電纜，校準基板和校準軟件，還有矢量網絡分析儀（VNA） – 業(yè)界首創(chuàng)。

該解決方案的性能范圍得到了進一步增強，遠遠超出了簡單的產品包。這些組件的完美集成，與先進的人體工程學設計和易于操作的控制相結合，確保了最佳的可用性和高度精確的測量。

標準配置

1. 150毫米手動探針臺：

• • RF卡盤+/-3μm表面平面度

  • 獨特的200μm壓板接觸/分離行程，精度小于或等于1μm，可重復接觸

  • 精準的探針對準

  • 一致的接觸力和超行程

  • 穩(wěn)定的接觸性能

2. 是德科技VNA：

• • 寬頻率覆蓋范圍：4.5,6.5,9,14,20,26.5 GHz

  • 全2端口VNA

  • 小巧緊湊的外形

  • 所有可靠的Keysight VNA都具有相同的校準和計量功能

  • Keysight VNA的通用GUI

  • 能夠擴展端口數量

3. 探頭和電纜：

• • 無限探頭– 最適合AI（Si）

  • ACP探針– 最適合AU（III-Vs）

  • | Z | 探測– 堅固的解決方案，使用壽命長

  • 精確接觸各種材料

  • 準確的測量結果和卓越的串擾特性

  • 包含了匹配的電纜和襯底

4. 校準工具：

• • 獨有的 1、2、3 和 4 端口晶圓上校準算法

  • 自動化校準監(jiān)視

  • 獨特的測量和分析方法

  • 準確的S參數測量

  • 自動校準設置用于提高效率

  • 簡便快捷的數據解釋和報告

完整的軟件包，以及可用的支持，安裝和培訓。