其他賬號登錄: 注冊 登錄
150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺功率放大器場強(qiáng)測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測試電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試失效分析測試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長計(jì)OTDR光芯片測試系統(tǒng)測試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測試附件國產(chǎn)射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件THz在片測試系統(tǒng)WAT測試系統(tǒng)高壓在片測試系統(tǒng)光電在片測試系統(tǒng)硅光在片測試系統(tǒng)射頻在片測試系統(tǒng)失效分析在片測試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測試系統(tǒng)直流在片測試系統(tǒng)自動測試軟件晶圓在片測試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測試系統(tǒng)電源自動測試系統(tǒng)多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺無源-有源混合負(fù)載牽引測試系統(tǒng)射頻微波測試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測行業(yè)資訊社會新聞公司簡介聯(lián)系我們招賢納士

|Z|探針

產(chǎn)品詳情



|Z|探針

同軸

image144.png

  • 最優(yōu)的單次測試接觸成本——壽命通常> 100 萬次

  • RF / 微波信號在探針內(nèi)被屏蔽并與空氣完全隔離

  • 在真空環(huán)境和10 K 至 300℃的溫度范圍內(nèi)具有卓越的性能

  • 完全對稱、MEMS 加工的共面接觸結(jié)構(gòu)

  • 可在任何焊盤材料上進(jìn)行測試,造成的損傷微乎其微

|Z|探針

PCB

Z探針PCB.png

  • 用簡單易用的探針針尖取代了昂貴且缺乏靈活性的測試夾具

  • 長壽命 —— 通常超過 100 萬次接觸探查

  • GS/SG 的工作頻率高達(dá) 4 GHz,GSG 的工作頻率則高至 20 GHz

  • 高功率 RF 測試:高達(dá) 30 W

  • -60°C 至 200°C 的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測試

|Z|探針

Power

image145.png

  • 高功率 —— 66 W(在 2.4 GHz)和 43 W(在 5 GHz)

  • 極低的插入損耗:典型值 ≤ 0.4 dB(在高達(dá) 40 GHz 的頻率下)

  • 極佳的接觸控制和低接觸電阻

  • 可在任何焊盤材料(Al 或 Au)上實(shí)現(xiàn)高性能

  • 極長的壽命 —— 通??山德涮讲?100 萬次