FormFactor/Cascade MPS150-SiPh_硅光子學(xué)手動(dòng)探針臺(tái)

產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

入門級(jí)手動(dòng)探針臺(tái)，用于表面耦合和水平邊緣耦合。

FormFactor推出了一種具有成本效益的硅光子測(cè)量解決方案，以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是FormFactor多年開發(fā)自動(dòng)光子測(cè)量系統(tǒng)的經(jīng)驗(yàn) - 現(xiàn)在根據(jù)大學(xué)和其他入門級(jí)用戶的需求量身定制。

MPS150-SiPh 可確保光纖精確對(duì)準(zhǔn)，從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合到設(shè)備中。MPS150-SiPh 采用直觀的設(shè)計(jì)，是經(jīng)驗(yàn)不足的用戶發(fā)現(xiàn)光子學(xué)并獲得最高精度測(cè)試結(jié)果的完美解決方案。

產(chǎn)品特性

1. 鏡面技術(shù)

獨(dú)特的 DUT 支架可實(shí)現(xiàn)高精度水平觀察
CalVue 和 DieVue 使用戶能夠調(diào)整光學(xué)探頭以實(shí)現(xiàn)最佳測(cè)量性能
允許單根光纖和光纖陣列的表面耦合和水平邊緣耦合

2.傾斜底座定位器

手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)整 6 個(gè)自由度的入射角
利用標(biāo)準(zhǔn)光纖支架

3.光學(xué)性能

系統(tǒng)可以配備FormFactor革命性的eVue數(shù)字成像系統(tǒng)或高性能SlimVue顯微鏡
eVue 的革命性設(shè)計(jì)在光學(xué)分辨率、數(shù)字變焦和實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)視頻之間實(shí)現(xiàn)了完美平衡。該系統(tǒng)能夠比以往任何時(shí)候都更快、更智能地導(dǎo)航、觀察和測(cè)量設(shè)備。
SlimVue?顯微鏡減輕了光子學(xué)集成電路（PIC）上小焊盤探測(cè)所需的高放大倍率光學(xué)元件的機(jī)械干擾。
該系統(tǒng)使用戶能夠比以往更快、更智能地導(dǎo)航、觀察和測(cè)量設(shè)備
Spectrum 軟件允許用戶測(cè)量 z 位移