SS-OCT測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

SS-OCT系統(tǒng)IVS-1000/2000/4000，我們可以完全根據(jù)客戶的需求來(lái)訂做，可廣泛應(yīng)用于研發(fā)、可行性研究和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)等。該系統(tǒng)根據(jù)客戶的不同需求配置的不同規(guī)格的掃頻光源、訂做的干涉計(jì)和探頭。硬件、軟件可以根據(jù)客戶的需求來(lái)訂做，軟件方面可以提供 LabVIEW的程序代碼，或者SDK。

產(chǎn)品特性

• 非接觸、非破壞、非侵入測(cè)量

• 高達(dá)30fps 實(shí)時(shí)、成像

• 1D&2D&3D的成像功能

• 檢測(cè)數(shù)據(jù)的連續(xù)保存功能

• 掃描角度可以自由設(shè)定

• OCT圖像數(shù)據(jù)、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的輸入、輸出

• 根據(jù)客戶的要求定制硬件、軟件 （option）

• LabVIEW（VI文件，源代碼程序 （option）

• 多普勒&偏光OCT（option）

產(chǎn)品應(yīng)用

• 工業(yè)非侵入式檢測(cè) 薄膜厚度（表面保護(hù)膜、涂層等）

• 瑕疵檢測(cè)（合成樹(shù)脂、塑料、半導(dǎo)體、涂層等）

• 生物&醫(yī)學(xué)顯微檢測(cè)

規(guī)格參數(shù)