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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡介聯(lián)系我們招賢納士

RTCA DO-160G Section 25 靜電放電(ESD)測(cè)試

RTCA DO-160G Section 25 靜電放電(ESD)測(cè)試
產(chǎn)品詳情


適用范圍

IEC61000-4-2、DO160F/G 第25章靜電放電試驗(yàn)


系統(tǒng)組成


RTCA DO-160G Section 25 靜電放電測(cè)試.png



配置清單

序號(hào)

產(chǎn)品名稱

規(guī)格

數(shù)量

1

靜電槍

30kV靜電放電發(fā)生器

1

2

放電模塊

放電模塊

1

3

校準(zhǔn)靶

靜電槍校準(zhǔn)靶

1

4

測(cè)試桌

靜電放電測(cè)試桌,含垂直偶合板/水平耦合板等

1


規(guī)格參數(shù)

放電電阻

330Ω(相對(duì)誤差1±20%)

儲(chǔ)能電容

150pF(相對(duì)誤差1±20%)

放電極性

正極性、負(fù)極性,正/負(fù)極性可切換

持續(xù)時(shí)間

至少5s

放電計(jì)數(shù)模式

每次放電自動(dòng)計(jì)數(shù),或放電成功才計(jì)數(shù)兩種模式

放電模式

單次和連續(xù)放電

觸發(fā)模式

手動(dòng)和自動(dòng)

空氣放電輸出電壓

0.2~15kV(誤差-0%~+10%)

接觸放電輸出電壓

0.2~10kV(誤差-0%~+10%)

放電槍頭

IEC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的圓形頭、錐形槍頭