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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無(wú)源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類

全自動(dòng)貼片機(jī)

全自動(dòng)貼片機(jī)
產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

ficonTEC Bondline系列主要應(yīng)用于全自動(dòng)貼片工藝。ficonTEC BL500 具有高性價(jià)比,廣泛適用于CoS的貼片、Bar條或芯片和熱沉的焊接等。

設(shè)備自動(dòng)從Gelpak或托盤 上拾取激光器芯片和熱沉,調(diào)角儀配合ficonTEC功能強(qiáng)大的軟件算法,對(duì)芯片和熱沉焊接面的傾斜誤差進(jìn)行校準(zhǔn),可延長(zhǎng)最終產(chǎn)品的壽命。

Ficontec貼片機(jī)可編程的Z軸配合分光鏡使設(shè)備非常適合于簡(jiǎn)單的篩選及組裝的應(yīng)用,同時(shí)也可用于電子或光電器件的返工裝配的應(yīng)用。通過(guò)選用加熱組件、可加熱的拾取頭或點(diǎn)膠頭,設(shè)備就可以支持焊接或粘合工藝。


產(chǎn)品特性

  • 可兼容不同的熱沉和基板

  • 銦焊和金錫焊

  • 采用超平的貼片工具從而得到最小的Smile效應(yīng)

  • 焊接壓力可調(diào)

  • 幾分鐘內(nèi)可完成不同產(chǎn)品的轉(zhuǎn)換

  • 實(shí)時(shí)甲酸氣體的產(chǎn)生

  • 可接入還原氣體

  • 溫度曲線控制

  • 爐子的升溫速率為100K/s

  • 在線溫度監(jiān)控

  • 光學(xué)字符識(shí)別(OCR) 熱沉上序列號(hào)并追蹤

  • 強(qiáng)大的模塊化軟件

  • 遠(yuǎn)程服務(wù)及控制

  • 工藝參數(shù)的采集

  • 器件可追溯


產(chǎn)品應(yīng)用

微光、光電、醫(yī)療、安全、軍工和通訊領(lǐng)域等


規(guī)格參數(shù)


X, Y, Z

Phi-Z

Phi-X 測(cè)角儀

Z

移動(dòng)

500, 500, 100 mm

< 90°

± 10°

12.5 mm

分辨率

0.5 μm

< 2“

10“

< 100 nm

重復(fù)性

±2 μm

± 5“

20“

± 1 μm

速度

1, 1, 0.2 m/s

20°/s

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精度

± 10, 5, 5 μm

± 10“

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