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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開(kāi)關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無(wú)源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車(chē)整車(chē)及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類(lèi)

校準(zhǔn)片

產(chǎn)品詳情



產(chǎn)品簡(jiǎn)介


型號(hào)

外觀

主要特性

標(biāo)準(zhǔn)阻抗校準(zhǔn)片

標(biāo)準(zhǔn)阻抗校準(zhǔn)片.png

  • 用于 ACP、Infinity 和 FPC 探針

  • 確保在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的晶圓上校準(zhǔn)中獲得更高的準(zhǔn)確度和更好的重復(fù)精度

  • 提供了經(jīng)驗(yàn)證的 LRRM 校準(zhǔn)準(zhǔn)確度

  • 具有自動(dòng)負(fù)載電感補(bǔ)償功能

CSR 校準(zhǔn)

多線TRL校準(zhǔn)片.png

  • |Z|探針完美匹配

  • 所有的 CSR 校準(zhǔn)都在校準(zhǔn)本身之上包括 Open 標(biāo)準(zhǔn),因而與為了 Open 而簡(jiǎn)單地抬高探針相比,提供了一種更加準(zhǔn)確的校準(zhǔn)。由于我們的探針系統(tǒng)在激光修整工藝中使用,所以對(duì)于所有的負(fù)載 (Load) 標(biāo)準(zhǔn),典型準(zhǔn)確度皆優(yōu)于 0.1%。而且,在 10 K 至 430 K 的溫度范圍內(nèi),Load 標(biāo)準(zhǔn)的電阻保持穩(wěn)定在理想值 (50 ?) 的 0.3% 以內(nèi)

多線TRL校準(zhǔn)片

多線TRL校準(zhǔn)片.png

  • 毫米波和亞毫米波校準(zhǔn)片

  • 專(zhuān)為 T-Wave? 探針而優(yōu)化

  • 多線 TRL 校準(zhǔn)襯底提供了 CPW 標(biāo)準(zhǔn),包括反射(短路)、thru 和兩線

  • 襯底材料:高阻性硅

  • 襯底厚度:275 μm

  • 介電常數(shù):11.8

  • 標(biāo)稱(chēng) Z0:50 Ω

Pyramid校準(zhǔn)片

Pyramid校準(zhǔn)片.png

  • 匹配 DUT 布局的能力改善了 RF 校準(zhǔn),可實(shí)現(xiàn)更好的良率

  • 探針卡中位點(diǎn)之間偏移的減小免除了建立關(guān)聯(lián)的需要

  • 對(duì)于多 DUT 校準(zhǔn),通過(guò)在多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)上的單次觸壓減少了校準(zhǔn)時(shí)間

  • 探針、校準(zhǔn)片和校準(zhǔn)系數(shù)在單個(gè)方框中(每個(gè)thru的延時(shí)、COPEN,LLOADLSHORT