產(chǎn)品簡(jiǎn)介
DC參數(shù)測(cè)量探針
DCP 100系列探針
具有低噪聲電氣性能的高質(zhì)量結(jié)構(gòu)
用于實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便的四點(diǎn)測(cè)量的開(kāi)爾文 (Kelvin) 版本
可替換的同軸探針針尖 ，可以選擇針尖的半徑，并對(duì)探針針尖提供了全面的電氣防護(hù)
SSMC 50 連接器
超低、fA 和 fF 測(cè)量（-65 o C 至 150 o C）
DCP-HTR系列探針
超低、fA 級(jí)別電流和 fF 級(jí)別電容測(cè)量（-65 °C 至 + 300 °C）
保證提供受到全面保護(hù)的測(cè)量（至 fA 和 fF 級(jí)別）
單獨(dú)的連接器為準(zhǔn)開(kāi)爾文 (Kelvin) 和 CV 測(cè)量提供了加壓感測(cè)連接
可探查不同材料和尺寸的焊盤
可快速更換磨損的探針，無(wú)需借助工具
DC大功率探針
高電流探針
實(shí)現(xiàn)了高達(dá) 60A 脈沖 / 10A DC 的晶圓探查
創(chuàng)新的多指尖設(shè)計(jì)提供了電流的均勻分配
支持高達(dá) 500V 的電壓
可替換的鎢探針針尖
溫度范圍：-55oC 至 300oC
焊盤-針尖結(jié)點(diǎn)上的極小接觸電阻用以減少測(cè)量期間的發(fā)熱，且針測(cè)印跡較少
可防止發(fā)生熱失控
能夠在高于以往的電流條件下完成晶圓上器件測(cè)量
少量的磨砂最大限度地減少了對(duì)鋁焊盤的損壞
小的占位面積 —— 針尖適合 1mm 焊盤
高壓探針
高達(dá) 3000 V 的同軸和三軸測(cè)量
可替換的探針針尖（多種針尖尺寸）
三軸測(cè)量可確保對(duì)關(guān)斷狀態(tài)下的器件漏電情況有更好的了解
高度可靠、穩(wěn)定和可重復(fù)的測(cè)量
作為完整測(cè)量解決方案的一部分進(jìn)行了整體設(shè)計(jì)
超高功率探針
（UHP）
利用單次降落探查實(shí)現(xiàn)了高達(dá) 10000 V 和 300 A 脈沖（在并行配置中為 600 A）的同軸測(cè)量
運(yùn)用創(chuàng)新的多指尖設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了高電流的均勻分配
可兼容 Tesla 200/300 mm 功率器件特性分析系統(tǒng)
通過(guò)單次降落探查對(duì)高電壓和高電流情況進(jìn)行測(cè)試減少了測(cè)量時(shí)間
可針對(duì)眾多的焊盤尺寸和測(cè)試電流進(jìn)行準(zhǔn)確的特性分析，對(duì)焊盤的損傷微乎其微，接觸電阻也極小
可在寬溫度范圍內(nèi)（-55°C 至 +300°C）提供安全、可靠和可重復(fù)的高電流 / 電壓測(cè)量
DC多觸點(diǎn)探針
DC-Q探針
電源旁路電感：8 nH
標(biāo)準(zhǔn)的 DCQ 探針具有平頭尖端針，材料為鍍鎳鎢或陂青銅 (BeCu)，直徑為 0.75 mil、1.0 mil 和 1.5 mil。
支持共線和非標(biāo)準(zhǔn)針配置
多達(dá) 16 個(gè) DC 針（標(biāo)準(zhǔn)配置）；最多 24 個(gè) DC 針（定制配置）
非常適合對(duì)整個(gè)電路進(jìn)行探查以完成功能測(cè)試
DC 探針能夠向被測(cè)試電路提供電源或慢邏輯
Eye-Pass
探針
高性能電源旁路提供了低阻抗和無(wú)諧振的連接（至 20 GHz）
RF 帶寬至 500 MHz
長(zhǎng)久的探針壽命：> 25 萬(wàn)次接觸探查
陂青銅針尖（用于金焊盤）或鎢針尖（用于鋁焊盤）
寬帶寬模擬電路的無(wú)振蕩測(cè)試
與 ACP 系列探針一起使用，以為已知合格裸片提供功能性全速測(cè)試
混合多種觸點(diǎn)類型：接地、電源（標(biāo)準(zhǔn)或 Eye-Pass）、邏輯 / 信號(hào)
在鋁焊盤上具有低且可重復(fù)的接觸電阻（在 Al 焊盤上 < 25 Ω，在 Au 焊盤上 < 0.01 Ω）
WPH探針
全半徑、鍍鎳鎢針
電源旁路電感：16 nH
支持多達(dá) 12 個(gè)陶瓷刀片 DC 針 / 觸點(diǎn)
