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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類

BERTScope? CR 系列時(shí)鐘恢復(fù)儀

BERTScope? CR 系列時(shí)鐘恢復(fù)儀
產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

BERTScope 時(shí)鐘恢復(fù) CR 系列的高級(jí)架構(gòu)測(cè)量并顯示 100 kHz 至 12 MHz 的 PLL 頻率響應(yīng),這是市面上可用于 抖動(dòng)測(cè)試 的最高環(huán)路帶寬。第一臺(tái)支持完整控制參數(shù)(包括環(huán)路帶寬、峰值/阻尼和滾降)的時(shí)鐘恢復(fù)設(shè)備。


產(chǎn)品特性

  • 儀器級(jí)的時(shí)鐘恢復(fù)設(shè)備

  • 150Mb/s 到28.6Gb/s連續(xù)可調(diào)的時(shí)鐘恢復(fù),覆蓋下一代IO標(biāo)準(zhǔn),包括PCIe3.0、10GBASE-KR、16xFC、25/28GCEI和100GBASE-LR-4/100GBase-ER-4

  • 從100KHz 到12MHz 精確的可調(diào)環(huán)路帶寬;支持USB3.0、SATA 6G和PCIe3.0中24MHz帶寬抖動(dòng)傳遞函數(shù)(JTF)測(cè)試

  • 精確、可調(diào)、自檢測(cè)和顯示的PLL 環(huán)路帶寬、peaking 和抖動(dòng)傳遞函數(shù)(JTF)- 能夠得到標(biāo)準(zhǔn)要求的黃金鎖相環(huán)

  • 可調(diào)的峰值、一階或二階滾降能力

  • 通過USB 接口同BERTScope集成在一起;或者單獨(dú)使用,提供PC 遠(yuǎn)控軟件

  • DC 耦合的數(shù)據(jù)通路提供了精確的信號(hào)完整性

  • 輸出全速率或分頻時(shí)鐘。全速率時(shí)鐘輸出最高14.3Gb/s,半速率時(shí)鐘輸出從14.3Gb/s 到17.5Gb/s 和28.6Gb/s

  • 內(nèi)建均衡器能夠從帶有嚴(yán)重ISI 數(shù)據(jù)中恢復(fù)時(shí)鐘

  • 數(shù)據(jù)測(cè)量能力:

         邊沿密度測(cè)量:確定被測(cè)信號(hào)的邊沿密度

         SSC(擴(kuò)頻時(shí)鐘)波形、dF/dt 的觀測(cè)


產(chǎn)品應(yīng)用

  • 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證高速IO 組件和系統(tǒng)

  • 信號(hào)完整性分析

  • 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的串行數(shù)據(jù)流認(rèn)證


規(guī)格參數(shù)


性能

描述

數(shù)據(jù)接口

50Ω 差分或者單端,DC 耦合.APC3.5 用戶可更換Planar Crown 適配器

數(shù)據(jù)率范圍

150Mb/s28.6Gb/s(CR125A速率為12.5Gb/s;CR175A 速率為17.5Gb/s)

數(shù)據(jù)插入損耗

從數(shù)據(jù)輸入端到數(shù)據(jù)輸出端,2dB(最小),2.6dB(典型值)3dB(最大)

數(shù)據(jù)輸入電壓范圍

-5 V (最小), +5 V (最大)

輸入靈敏度

100mV 單端(典型)
   50mV
差分(典型)

邊沿密度測(cè)量分辨率

±1%

相位偏差測(cè)量

顯示為RMS 百分比和峰峰值百分比,10~90% 峰峰值測(cè)量范圍