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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開(kāi)關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無(wú)源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車(chē)整車(chē)及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類(lèi)

臺(tái)式光功率計(jì)

臺(tái)式光功率計(jì)
產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

光功率計(jì)作為一種基礎(chǔ)的光信號(hào)測(cè)量?jī)x器,內(nèi)置大敏面光電探測(cè)器和高精度光電檢測(cè)單元,在75dB 動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)優(yōu)于0.2 dB 的光功率測(cè)量精度,可廣泛應(yīng)用于各種光信號(hào)測(cè)量領(lǐng)域。


產(chǎn)品特性

  • 最小可測(cè)量光功率 -62dBm

  • 最大可測(cè)量光功率 +25dBm

  • 模擬輸出可選

  • 高速同步觸發(fā)可選


產(chǎn)品應(yīng)用

  • 激光耦合

  • 光器件長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)試

  • 實(shí)驗(yàn)室及科研


規(guī)格參數(shù)

參數(shù)指標(biāo)

參考數(shù)值

波長(zhǎng)范圍

600~1100800~1700

測(cè)量范圍

-62~+25 dBm

動(dòng)態(tài)范圍

75 dB

測(cè)量誤差

0.2 dB

采樣時(shí)間

50/100/200/500 ms

顯示單位

dBm/dB/mW

光纖接口

FC、LC或SC

模擬及觸發(fā)接口

SMA

通信接口

USB/LAN

工作溫度

0~+50℃

存儲(chǔ)溫度

-20~+70℃

相對(duì)濕度

<95%(非結(jié)露)

電源

AC90~250V,50~60Hz, 20W

外形尺寸

360×300×110 mm