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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡介聯(lián)系我們招賢納士

光開關(guān)

光開關(guān)
產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡介

光開關(guān)是一種具有光路切換和光通道擴(kuò)展功能的儀器設(shè)備,可根據(jù)用戶需求集成多個(gè)機(jī)械式、MEMS、電光、磁光等不同類型的光開關(guān)器件,模塊和臺(tái)式兩種封裝方式可選。


產(chǎn)品特性

  • 高重復(fù)性及串?dāng)_性能優(yōu)異

  • 快速光切換

  • 多種遠(yuǎn)程控制接口


產(chǎn)品應(yīng)用

  • 光源及測(cè)試儀器通道擴(kuò)展

  • 光通信產(chǎn)品自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試

  • 實(shí)驗(yàn)及科研


規(guī)格參數(shù)

參數(shù)指標(biāo)

參考數(shù)值

工作模式

單模

多模

光纖類型

9/125um

50/125um或62.5/125um

工作波長

1250~1650nm

850±40nm 或1310±40nm

插入損耗

≤ 1.3dB

≤ 1.5 dB

通道隔離度串?dāng)_

55 dB

35 dB

最大承受功率

500mW

切換時(shí)間

≤ 10 ms

工作壽命

≥ 107 Cycle

光纖接口

FC/UPC、FC/APC、SC/APC 或 SC/UPC

通信接口

RS232(模塊),RS232/USB/LAN(臺(tái)式)

顯示屏

3.5 英寸TFT(臺(tái)式)

工作溫度

0~+50

存儲(chǔ)溫度

-20~+70

相對(duì)濕度

<95%(非結(jié)露)

電源

AC 90~250V, 50~60Hz, 20W(臺(tái)式)

DC 5V, 2A(模塊)

外形尺寸mm

360×300×110mm(臺(tái)式)

100×80×20mm(模塊)