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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類

脈沖光源

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

脈沖光源集成種子激光器和光纖放大器,采用直接數(shù)字頻率合成(DDS)技術(shù)實(shí)現(xiàn)脈沖寬度和重復(fù)頻率的精確控制,脈沖峰值輸出功率可達(dá)50W。內(nèi)部觸發(fā)或外部觸發(fā)可選。


產(chǎn)品特性

  • 最小脈寬5ns

  • 最大峰值功率50W

  • 脈沖寬度、重復(fù)頻率和峰值功率可調(diào)


產(chǎn)品應(yīng)用

  • 分布式光纖傳感

  • 激光雷達(dá)

  • 實(shí)驗(yàn)及科研


規(guī)格參數(shù)

參數(shù)指標(biāo)

參考數(shù)值

中心波長(zhǎng)

905、1064、1550nm 或用戶定制

峰值功率

10~50 W

脈沖寬度

5~500 ns

重復(fù)頻率

100~100K Hz

消光比

>20 dB

隔離度

>35 dB

光纖類型

單模或多模

光纖接口

FC/APC、FC/UPC、SC/APC或SC/UPC

觸發(fā)方式

內(nèi)觸發(fā)或外觸發(fā)

通信接口

RS232/USB

工作溫度

0~+50

存儲(chǔ)溫度

-20~+70

相對(duì)濕度

<95%(非結(jié)露)

電源

DC 5V,2A

外形尺寸

150×125×25 mm