產(chǎn)品簡介
在多種溫度條件下實(shí)現(xiàn) “無人值守式”測(cè)試的高精度探針系統(tǒng)。對(duì)于眾多的應(yīng)用，可在 EMI 屏蔽、閉光和干燥的測(cè)試環(huán)境以及 -60°C 至 300°C 的溫度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)卓越的測(cè)量性能。
產(chǎn)品特性
可針對(duì) DC、RF、mmW、FA、WLR 等進(jìn)行重新配置
適用于小型和大型多站點(diǎn)探針卡的完整解決方案
可在寬溫度范圍內(nèi)提供穩(wěn)定和可重復(fù)的測(cè)量
快速、安全和輕松的晶圓接觸
快速設(shè)置和測(cè)試數(shù)據(jù)收集
多種溫度下的無人值守測(cè)試
增強(qiáng)型光學(xué)可視化、快速設(shè)置、以及晶片內(nèi)和晶圓導(dǎo)航功能
自動(dòng)晶片尺寸測(cè)量和晶圓對(duì)準(zhǔn)
實(shí)現(xiàn)了快速子晶片導(dǎo)航
產(chǎn)品應(yīng)用
IV/CV，RF/mmW，失效分析，WLR，MEMS
產(chǎn)品規(guī)格參數(shù) 下載
