量子和CryoCMOS:利用先進(jìn)的測(cè)試與測(cè)量工具實(shí)現(xiàn)計(jì)算的未來發(fā)表時(shí)間:2024-03-01 16:25作者:DeGrave, Boiko來源:FormFactor 產(chǎn)品:4K低溫探針臺(tái) 先進(jìn)的計(jì)算和量子計(jì)算設(shè)備需要處理器本身的低溫條件,以及將微波信號(hào)驅(qū)動(dòng)到處理器的控制芯片。這些先進(jìn)的器件通常包括鈮或鋁超導(dǎo)電路,其支持芯片基于低溫兼容的CMOS結(jié)構(gòu)。將這項(xiàng)新技術(shù)從研發(fā)階段帶出實(shí)驗(yàn)室,進(jìn)入工程規(guī)模生產(chǎn),并最終實(shí)現(xiàn)批量生產(chǎn),需要專門的工具來測(cè)試、測(cè)量和部署先進(jìn)設(shè)備,所有這些都在低于 4K 的環(huán)境中進(jìn)行。主要瓶頸包括耗時(shí)的引線鍵合、設(shè)備冷卻前昂貴的封裝工藝以及稀釋制冷機(jī)的冷卻時(shí)間長(zhǎng)。 FormFactor是量子計(jì)算開發(fā)人員的領(lǐng)先推動(dòng)者,擁有一套低溫測(cè)試和測(cè)量工具以及部署解決方案。我們討論了一個(gè)客戶案例研究,該案例研究在SFQ電路上實(shí)施低溫晶圓探測(cè),以在數(shù)小時(shí)內(nèi)獲得統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)集,否則需要數(shù)周或數(shù)月的時(shí)間,一種用于快速芯片測(cè)試的新工具,該工具利用低溫高密度MEMS探頭,可在2K以下進(jìn)行光子學(xué)探測(cè),以及在毫開爾文稀釋冰箱低溫恒溫器中部署量子器件與探針插座接口。 內(nèi)容版權(quán)歸原作者所有,此處僅作分享學(xué)習(xí)使用,如有侵權(quán),請(qǐng)聯(lián)系本站刪除 |