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技術(shù)文章|全自動集成硅光子晶圓測試系統(tǒng)

發(fā)表時(shí)間:2023-12-20 09:29作者:Golam Bappi ,Dan Rishavy來源:FormFactor


全自動集成硅光子晶圓測試系統(tǒng)(FormFactor CM300xi - SiPh探針臺

-支持用于構(gòu)建TeraPHY? chiplet 的各種組件的全自動晶圓光學(xué)+電學(xué)表征測量,

-可重復(fù)光纖對準(zhǔn)(~0.1 dB),

-電動定位器可顯著提高測試吞吐量,

-支持在高溫 (高達(dá)150°C) 下進(jìn)行測試,

–無源、直流、直流光電、射頻和射頻光電測量的任何組合都可以在全晶圓上運(yùn)行,無需重新配置和校準(zhǔn)測試裝置。



CM300xi-SIPH自主型硅光子器件測量半自動化 / 全自動化測試系統(tǒng)



產(chǎn)品鏈接:http://www.ogim.org/h-pd-103.html






Ayar Labs 是一家將硅光子學(xué)運(yùn)用于片間通訊的芯片公司,F(xiàn)ormFactor 的CM300xi SiPh硅光子探針臺,可以使我們能夠表征各種電子/光子結(jié)構(gòu),以獲得高可信度的統(tǒng)計(jì)分布。


下文由Golam Bappi (Ayar Labs)和Dan Rishavy (FormFactor)共同完成。




















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