技術(shù)文章|全自動集成硅光子晶圓測試系統(tǒng)發(fā)表時(shí)間:2023-12-20 09:29作者:Golam Bappi ,Dan Rishavy來源:FormFactor 全自動集成硅光子晶圓測試系統(tǒng)(FormFactor CM300xi - SiPh探針臺) -支持用于構(gòu)建TeraPHY? chiplet 的各種組件的全自動晶圓光學(xué)+電學(xué)表征測量, -可重復(fù)光纖對準(zhǔn)(~0.1 dB), -電動定位器可顯著提高測試吞吐量, -支持在高溫 (高達(dá)150°C) 下進(jìn)行測試, –無源、直流、直流光電、射頻和射頻光電測量的任何組合都可以在全晶圓上運(yùn)行,無需重新配置和校準(zhǔn)測試裝置。 CM300xi-SIPH自主型硅光子器件測量半自動化 / 全自動化測試系統(tǒng)產(chǎn)品鏈接:http://www.ogim.org/h-pd-103.html Ayar Labs 是一家將硅光子學(xué)運(yùn)用于片間通訊的芯片公司,F(xiàn)ormFactor 的CM300xi SiPh硅光子探針臺,可以使我們能夠表征各種電子/光子結(jié)構(gòu),以獲得高可信度的統(tǒng)計(jì)分布。 下文由Golam Bappi (Ayar Labs)和Dan Rishavy (FormFactor)共同完成。 Current Activities and Future Work 內(nèi)容版權(quán)歸原作者所有,此處僅作分享學(xué)習(xí)使用,如有侵權(quán),請聯(lián)系本站刪除 |